通过以知识为基础进行鉴定的方法，并在领先的技术节点展现出色的可靠性结果，AMD 产品的可靠性超越标准行业要求。所有产品在投产前必须满足独特且严格的质量和可靠性淘汰标准（基于标准的 JEDEC、IPC、IEC、AEC、MIL-STD、基于知识的方法）。
可靠性鉴定
AMD 产品经过全面评估以确保满足客户期望的产品寿命和性能。AMD 采用加速的压力和寿命模拟测试来实现稳健的现场运行。
典型的可靠性压力测试包括但不仅限于：
- 高温工作寿命 (HTOL) 测试
- 预调测试
- 温度循环测试 (TCT)
- 高加速应力测试 (HAST)
- 温度与湿度偏差 (THB)
- 高温存储 (HTS)
- 机械冲击与振动 (MSV)
- 静电放电 (ESD)
- 闩锁效应测试
- 软错误率评估 (SER)
- 板级可靠性特征分析
根据测试结果，我们将不断推动设计和测试方面的改进，努力符合 AMD、行业和客户设定的最高标准。